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			| 仪器中文名 | 电子探针X射线显微分析仪 | 
			| 仪器英文名 | Electron Probe X-ray Micro-Analyzer | 
			| 型号 | JXA-8230 | 
			| 制造商 | 日本电子株式会社 | 
			| 产地 | 日本 | 
			| 购买年份 |  | 
			| 仪器负责人 | 朱爱美 | 
			| 可对外开放时间 |  | 
			| 安放地点 | 山东省青岛市崂山区仙霞岭路6号 | 
			| 所在实验室 | 理化性质与成分分析 | 
			| 仪器编号 | 151117000-744599-2013-12240 | 
			| 主要规格 | JXA-8230 | 
			| 技术指标 | 1. 电子光学系统 二次电子像分辨率:5nm  背散射电子像分辨率:20nm(拓扑像、成分像), 成分分辨足以清晰分辨α / β黄铜 电子枪:LaB6发射枪,预对中灯丝 加速电压:0 ~ 30kV  束流范围:10-5 ~ 10-12A 图像放大倍数:×40~×300,000,连续可调;2. 波谱系统 分析元素:5B - 92U  分析精度:好于1%(主元素, 含量>5%)和5%(次要元素, 含量~1%) 分析速度:自动全元素定性分析时间≤60秒,可以自动识别0.1 wt%以上的元素 | 
			| 功能 | 运用电子所形成的探测针(细电子束)作为X射线的激发源来进行显微X射线光谱分析 | 
			| 应用范围 | 化学,地球科学 | 
			| 主要附件 |  | 
			| 收费标准 |  | 
			| 检测说明 | 自然资源部第一海洋研究所常年接收用户申请,申请对象为在职科研人员(需具备相应的海洋监检测人员资质)。用户可提交申请书,打印一份盖单位公章后寄至:青岛市崂山区仙霞岭路6号 用户办公室收(邮编:266061 | 
			| 备注 |  |