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仪器中文名 | XRF高分辨率无损岩心扫描仪 |
仪器英文名 | XRF-XYZ |
型号 | GeoTek XYZ |
制造商 | GeoTek |
产地 | 英国 |
购买年份 | 2024 |
仪器负责人 | 赵嵩 |
可对外开放时间 | |
安放地点 | 实验楼201 |
所在实验室 |
理化性质与成分分析
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仪器编号 | |
主要规格 |
GeoTek XYZ
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技术指标 |
将无损岩心XRF元素扫描与高精度成像、体积磁化率(SI)传感器集成在一套系统中,一站式解决化学元素与主要物理参数无损测试。XRF系统的两种不同输出功率区分检测轻/重元素,结果更可靠,可分析Mg—U的26种XRF元素,一次设置可连续测量6根岩心
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功能 |
XRF元素、体积磁化率测试、高精度综合成像系统、颜色反射率。适用于海洋与陆地钻孔岩心、U-Channel岩心样品、其他需无损分析的固体样品。
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应用范围 |
可以对海底/湖底沉积样芯、地质岩芯、地球土壤样芯、树木样芯等芯体进行同步的物理、化学参数无损分析,快速获取岩心表面及内部的高精度物理、化学参数及高清图像数据,为地质资源潜力评估、储量分析等提供关键信息。
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主要附件 | |
收费标准 |
所内:700/h(XRF+体积磁化率),默认含磁化率分析;成像:400/Sec。所外:850/h(XRF+体积磁化率)XRF:700/h,磁化率150/h;成像:600/Sec。非岩心样品面议。
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检测说明 |
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备注 |
具体测试要求可联系仪器负责人(赵嵩:17645216588)
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